不少專業(yè)人士對(duì)膜厚測(cè)量?jī)x肯定不會(huì)感到陌生吧，它主要是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表，采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
膜厚怎么測(cè)量？
基體表面鍍膜或氣相沉膜是材料表面工程中的重要技術(shù)，膜的厚度直接影響其性能，故需對(duì)其進(jìn)行有效測(cè)量。目前常用的膜厚測(cè)量方法主要有磁性法、渦流法、超聲波測(cè)厚法等。其中渦流膜厚測(cè)量?jī)x，由于采用了單一渦流法的渦流涂層測(cè)厚儀可以實(shí)現(xiàn)無(wú)損地測(cè)量非磁性金屬基材上的各種非導(dǎo)電覆蓋層的厚度，如油漆，橡膠，塑料，陽(yáng)極氧化膜等，常應(yīng)用于測(cè)量航空器，船舶，汽車，門窗以及各種鋁制品表面的涂層，陽(yáng)極氧化層還有油漆的厚度。
工作原理：
物質(zhì)在被一定波長(zhǎng)的X射線照射時(shí)，元素將處于激發(fā)狀態(tài)而發(fā)射出光子，形成一種特征X熒光射線。每一種元素的能量都是一一對(duì)應(yīng)的，探測(cè)器在接收到元素的特征X熒光射線之后，可以通過(guò)其中的光子能量進(jìn)行定性分析，還可通過(guò)其中的光子量值進(jìn)行定量分析。
由于各個(gè)元素的特征X射線能量恒定，和元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系，所以我們可以根據(jù)所得到的特征X熒光射線能量，對(duì)被檢物進(jìn)行定性分析。通過(guò)檢測(cè)到的光子數(shù)量，可以對(duì)被測(cè)物進(jìn)行定量分析。
1、涂覆層成分及厚度分析：對(duì)多層精準(zhǔn)測(cè)試：多層合金、上下元素重復(fù)鍍層、輕元素和有機(jī)物涂鍍層及滲層的厚度及成分分析；
2、環(huán)保檢測(cè)解決方案：對(duì)各種重金屬及有害元素進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)試檢出限可達(dá)1ppm以下；
3、全元素成分分析：可對(duì)各種合金、礦石、土壤、珠寶首飾等等進(jìn)行元素成分分析。
