采用光纖錐耦合X射線探測(cè)器,zui大限度的提高了光通量,用1:1的光纖面板,耦合效率可達(dá)到70%,大大提高了相機(jī)的探測(cè)能力。圖像不失真,不需要對(duì)影像進(jìn)行較正,可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡(jiǎn)單
X射線探測(cè)器 的詳細(xì)介紹
高耦合效率,降低設(shè)備X光源的投入
影像不失真,讓系統(tǒng)軟件變得更簡(jiǎn)單
采用光纖錐耦合的,zui大限度的提高了光通量,用1:1的光纖面板,耦合效率可達(dá)到70%,大大提高了相機(jī)的探測(cè)能力。圖像不失真,不需要對(duì)影像進(jìn)行較正,可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡(jiǎn)單。
此相機(jī)廣泛的應(yīng)用于工業(yè)無損檢測(cè),如鑄件和焊接檢測(cè)、PCB板檢測(cè)、工業(yè)CT等。
BGA檢查 IC焊腳檢查 二管質(zhì)量檢查 金線檢查
產(chǎn)品規(guī)格:
標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品有以下三個(gè)型號(hào),根據(jù)X光源不同,要求分辨率以及目標(biāo)物的厚度不同,有可能需要改變熒光屏材料和厚度。我們向您提供*的解決方案。
產(chǎn)品型號(hào) | HR-25-X-Ray | HR-40-X-Ray | HR-75-X-Ray |
CCD芯片 | 2/3’’芯片,752*582 | 2/3’’芯片,1392*1040 | 1.2’’芯片,2048*2048 |
像素尺寸 | 11.6um*11.2um | 6.45um*6.45um | 7.4um*7.4um |
輸出格式 | 標(biāo)準(zhǔn)CCIR模擬型號(hào)輸出 | 8bit或12bit數(shù)字信號(hào)輸出 | 8bit或12bit數(shù)字信號(hào)輸出 |
幀速 | 視頻速度 | 17幀或30幀 | 15幀 |
計(jì)算機(jī)接口 | 無 | 1394或以太網(wǎng)接口 | 以太網(wǎng)接口 |
視場(chǎng) | 20mm*15mm(其它可選) | 32mm*24mm(其它可選) | 45um*45um |
熒光屏鍍膜 | P43(其它可選) | P43(其它可選) | P43(其它可選) |
X光響應(yīng)范圍 | 20kev-100kev | 20kev-100kev | 20kev-100kev |
入射光窗 | 0.5mm厚鋁膜(其它可選) | 0.5mm厚鋁膜(其它可選) | 0.5mm厚鋁膜(其它可選) |
分辨率 | 50um | ≤50um,10lp/mm | ≤50um,11 lp/mm |
HR-75-X-Ray
400萬像素高分辨率;選用75:25的光纖錐耦合,視野可達(dá)到45mm X 45mm.
HR-40-X-Ray
140萬像素高分辨率;選用40:11的光纖錐耦合,視野可達(dá)到32mm X 24mm.
HR-25-X-Ray
體積小巧,直徑僅55mm,長(zhǎng)68mm,易于安裝;分辨率高;動(dòng)態(tài)范圍好。
量子效率曲線圖
(P43熒光屏(25mg/cm2), 厚度:55um)
定制產(chǎn)品:
我們可根據(jù)客戶的需求定制X-Ray相機(jī)
- 熒光屏類型和厚度
- 附加層(如Alu,ITO)
- 輸入窗口類型和厚度
- 相機(jī)電子部分(如計(jì)算機(jī)接口)
- 制冷(針對(duì)于部分型號(hào))
- 真空接口
- 視野大小
- 空間分辨率
應(yīng)用領(lǐng)域
醫(yī)學(xué)成像設(shè)備:
工業(yè)檢測(cè)設(shè)備:
- PCB或BGA 檢查
- 半導(dǎo)體缺陷檢查
- 食品安全檢查
- X光光斑成像
- 無損探傷
- 電線檢查
安防設(shè)備:
- 紫外線預(yù)警
- 距離選通激光雷達(dá)
- 夜視相機(jī)
- 爆炸物探測(cè)
- 指紋獲取
- 火災(zāi)探測(cè)