服務(wù)熱線
13810233784
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,石油,地礦,能源 |
|---|
LIBS是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy （激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀）的簡稱，該技術(shù)通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體，利用光譜儀對等離子體發(fā)射光譜進(jìn)行分析，以此來識別樣品中的元素組成成分，進(jìn)而可以進(jìn)行材料的識別、分類、定性以及定量分析。
自從LIBS技術(shù)問世以來，該技術(shù)就被*為是一種前景廣闊的新技術(shù)，將為分析領(lǐng)域帶來眾多的創(chuàng)新應(yīng)用。LIBS作為一種新的材料識別及定量分析技術(shù)，既可以用于實驗室，也可以應(yīng)用于工業(yè)現(xiàn)場的在線檢測；
LIBS彌補了傳統(tǒng)元素分析方法的不足，尤其在微小區(qū)域材料分析、鍍層/薄膜分析、缺陷檢測、珠寶鑒定、法醫(yī)證據(jù)鑒定、粉末材料分析、合金分析等應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢明顯，同時，LIBS還可以廣泛適用于地質(zhì)、煤炭、冶金、制藥、環(huán)境、科研等不同領(lǐng)域的應(yīng)用。
除了傳統(tǒng)的實驗室的應(yīng)用，LIBS還是為數(shù)不多的可以做成便攜裝置的元素分析技術(shù)，更是目前為止被認(rèn)為可以做在線分析的元素分析技術(shù)。這將使分析技術(shù)從實驗室領(lǐng)域極大地拓展到戶外、現(xiàn)場、甚至生產(chǎn)工藝過程中；
Spectral Industries 推出的全新時間門控LIBS測量系統(tǒng)，是一套高效，功能強大，通用型強的LIBS測量系統(tǒng)，無論在實驗室或戶外操作，均可*應(yīng)對各種測試環(huán)境，甚至其IRIS 光譜儀可用于空間環(huán)境！
LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析儀具有如下特點及優(yōu)勢：
l 超高數(shù)值孔徑(F/2)：基于*設(shè)計的IRIS 中階梯光柵光譜儀的其LIBS系統(tǒng)可以獲得優(yōu)于其他對手的優(yōu)質(zhì)信噪比；
l 使用中階梯光譜儀： 兼顧高分辨率(0.1-0.4nm)及寬的光譜覆蓋范圍180-800nm,880-1100nm；
l 配備高效光學(xué)激光聚焦及信號收集系統(tǒng)：可以獲得更低的探測極限以及更短的積分時間;
l 使用優(yōu)選的全自動控制的激光源以及3軸電動位移臺： 軟件全自動控制，協(xié)調(diào)工作，同時保持OEM定制靈活性；
l <10ns 精確時延抖動： 有效避免韌致輻射背景噪聲干擾；
l 靈活小巧一體化的設(shè)計：不但適合實驗室使用，同樣適合工業(yè)設(shè)備的集成；強大的設(shè)計提供非常低的溫度影響，使其能夠承受惡劣的環(huán)境，同時可任意方向安裝，以任何想要的方向來對準(zhǔn)樣品，不受場地及環(huán)境限制；
LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析儀
Spectral Industries 的全套LIBS 系統(tǒng)包括：
l IRIS 中階梯光柵光譜儀
l 納秒脈沖主動調(diào)Q激光器
l 用于門控LIBS 測量的脈沖延遲發(fā)射器
l 激光聚焦及信號收集光學(xué)系統(tǒng)
l 自動控制-3軸電動位移臺
l 軟件—全硬件控制，Matlab數(shù)據(jù)處理作圖；
?
LIBS 系統(tǒng)（未包括譜儀及樣品臺）
IRIS 中階梯光譜儀
SPECTRAL LIBS 系統(tǒng)指標(biāo)參數(shù) | |
光譜儀 | IRIS UV(200-800nm)or IRIS-DUV(氮氣吹掃180-800nm,880-1100nm) 光譜儀 |
光學(xué)系統(tǒng) | 高效激光聚焦及信號收集光學(xué)系統(tǒng) |
激光器 | 可選擇不同單脈沖能量及頻率的 主動調(diào)Q 納秒脈沖激光器 |
脈沖延遲發(fā)生器 | <10 ns抖動 ,100ns 時間延遲步距調(diào)整 |
位移臺 | 3軸電動位移臺，50*50mm移動范圍；（其他尺寸可選） |
氣體吹掃 | 吹掃接口閥門適用于深紫外測試：<200nm波段； |
工作距離 | > 50-500 mm （更大距離可選） |
激光聚焦光斑尺寸 | <=100 µm |
IRIS 中階梯光譜儀參數(shù)指標(biāo) | |
光譜范圍 | 180 - 800 nm and 880-1100nm (包括吹掃選項) |
光譜分辨率 | 0.1 - 0.45 nm (@ 180-800 nm, for 25 µm wide slit) |
F-數(shù)值孔徑 | f/2 |
狹縫尺寸 | 25 x 100 µm2 (其他尺寸可選: 10 x 100 µm2 and 50 x 100 µm2) |
波長穩(wěn)定性 | < 5 pm/K |
尺寸 | 220 x 195 x 80 mm3 (包括相機) |
重量 | 3 kg (包括相機) |
相機 | CMOS 探測器 (深紫外增強型),積分時間28 µs – 30 s |
LIBS 系統(tǒng)元素探測極限（部分）
典型現(xiàn)場應(yīng)用案例
實驗室礦石表面Mapping分析
--鉆孔巖心棒元素分布2D圖譜
--鋰礦巖石表面元素分布圖
