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OLED顯示模組壽命測(cè)試系統(tǒng) 平鋪式模組壽命可搭載亮度計(jì)直接量測(cè)發(fā)光膜組的真實(shí)數(shù)值，在研發(fā)和過(guò)程數(shù)據(jù)評(píng)判工作中，可起到重要作用。

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測(cè)試系統(tǒng) 通道數(shù)量：32、64、128，可擴(kuò)展到512 路；測(cè)量模式1：恒流、恒壓、恒亮度，需根據(jù)客戶需求選定

在本文中，我們將描述如何在全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中使用影像亮度色度計(jì)，在高速度、大批量的生產(chǎn)環(huán)境中識(shí)別和量化缺陷。本文內(nèi)容涵蓋測(cè)試設(shè)置，以及可以執(zhí)行的測(cè)試范圍 – 從簡(jiǎn)單的點(diǎn)缺陷檢測(cè)到復(fù)雜的 Mura檢測(cè)和評(píng)估。