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納秒泵浦探測光譜儀的7個檢測方法納秒泵浦探測光譜儀使用了特殊光路設計和平場光學元件，不僅在沿出射狹縫的長度方向，而且在沿焦平面色散方向均獲得了優(yōu)異的圖像質量，分辨率和通量。選擇合適的光源和采樣附件，與配置正確的光譜儀同樣重要。我們提供豐富的光源：從激光器、LED，到氙燈、氘燈和鹵鎢光源，還可以提供長壽命或者工業(yè)型光源，標準光學附件往往用在OEM產品開發(fā)的早期階段，后期我們的光機工程師還可以通過定制、集成的方式，縮小光譜儀尺寸，大幅提升性能。納秒泵浦探測光譜儀檢測方法（1）分析速度較快：原子發(fā)射光譜用于煉鋼爐...

2020 5-24
激光M2因子分析儀具有廣泛而重要的應用激光M2因子分析儀是模塊式的，包括一個光學掃描器，安裝于溫度濕度都可控的腔室里，基本配置可實現(xiàn)二維輪廓的靜態(tài)特征，及通過熱噪聲和單點測量來確定的諧振頻率，除了基本配置，還可配備如下工作模塊：動態(tài)模塊可以測量任何振動器件的全譜響應，無論是依靠熱激勵或者是外力激勵（壓電驅動）同時能提供機械振動的實時成像。如：機械傳感器的動態(tài)特性可以用一個簡單且用戶友好的方式測得。分析儀基于半導體激光吸收光譜技術，無需采樣預處理系統(tǒng)，能夠在高溫、高粉塵、高腐蝕等惡劣的環(huán)境下進行原位氣體濃度測量的分...

2020 4-23
近場光學顯微鏡的結構及性能特點近場光學顯微鏡是根據(jù)非輻射場的探測與成像原理，能夠突破普通光學顯微鏡所受到的衍射極限，采用亞波長尺度的探針在距離樣品表面幾個納米的近場范圍進行掃描成像的技術，在近場觀測范圍內，在樣品上進行掃描而同時得到分辨率高于衍射極限的形貌像和光學像的顯微鏡。光學顯微鏡適用于超高光學分辨率下進行納米尺度光學成像與納米尺度光譜研究。傳統(tǒng)光學顯微鏡的分辨率受到光學衍射極限影響，分辨率不超過該波長尺度范圍。與傳統(tǒng)光學顯微鏡不同的是，近場光學顯微鏡利用亞波長尺度探針，可以得到更小分辨率。原理：使用...

2020 4-14
帶通濾光片的工作原理是什么？帶通濾光片是在塑料或玻璃基材中加入特種染料或在其表面蒸鍍光學膜制成，用以衰減（吸收）光波中的某些光波段或以精確選擇小范圍波段光波通過，而反射（或吸收）掉其他不希望通過的波段。通過改變?yōu)V光片的結構和膜層的光學參數(shù)，可以獲得各種光譜特性，使濾光片可以控制、調整和改變光波的透射、反射、偏振或相位狀態(tài)。帶通濾光片在熒光應用范圍越來越廣泛，有熒光團分子結構組，帶通濾光片工作原理有熒光，基態(tài)，激發(fā)態(tài)，發(fā)射狀態(tài)等工作過程，下面我們具體來看看熒光濾光片的工作原理是什么？有些分子通過吸收光能量...

2019 12-5
激光功率計探頭工作原理簡述激光功率計探頭由功率傳感器和功率指示器兩部分組成。功率傳感器也稱功率計探頭，它把高頻電信號通過能量轉換為可以直接檢測的電信號。功率指示器包括信號放大、變換和顯示器。顯示器直接顯示功率值。功率傳感器和功率指示器之間用電纜連接。為了適應不同頻率、不同功率電平和不同傳輸線結構的需要，一臺功率計要配若干個不同功能的功率計探頭。激光功率計探頭器的組成按功率傳感器技術類型，可把功率計分為3類：熱敏電阻型功率計，熱電偶型功率計和晶體檢波式功率計。激光功率計探頭使用熱敏電阻做功率傳感元件。熱...

2019 11-12
先鋒科技邀您參加BCEIA分析測試行業(yè)盛會！10月23日-26日，第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會（BCEIA2019）將于國家會議中心召開。光電儀器事業(yè)中心、工業(yè)光電及自動化事業(yè)中心將再次強勢聯(lián)合出席本次盛會，為您提供更為全面的分析儀器產品及分析儀器關鍵配件，歡迎各位蒞臨我司展臺，觀摩新品參與活動，開心逛展!展會地點：天辰東路.國家會議中心展位號碼：41079展位屆時先鋒科技將展出如下產品系列：實驗室熒光光譜系統(tǒng)；現(xiàn)場光譜應用系統(tǒng)；分析儀器關鍵配件；其中先鋒科技展區(qū)，分析儀器關鍵配件展出重點產品如下：KETEK...

2019 10-22
常見的高靈敏度雙通道光度計有哪些？市場中常見的高靈敏度雙通道光度計有哪些？是很多朋友們都想知道的，針對這些以下業(yè)內相關專家就來進行介紹。業(yè)內相關專家介紹，現(xiàn)在市場中常見的高靈敏度雙通道光度計有單光束、雙光束和雙波長3種類型：1、單光束紫外分光光度計。這種類型就是光源從近光區(qū)發(fā)出的，再經過單色器等一系列光學元件，后照在檢測器上始終就為一束光；這種類型特點就是結構非常簡單，價格也非常低，能適用于做定量分析，測量結果會受電源的波動影響較大，很容易給測量結果帶來比較大的誤差。2、雙光束紫外可見分光光度計。這種類型就是...

2019 10-14
關于高靈敏度雙通道光度計散光的測試目前有些高靈敏度雙通道光度計的生產廠商只測試220nm處的雜散光不測試340nm處的雜散光，這是不對的。測試220nm處雜散光的理由是：，根據(jù)量子光學理論，波長是能量的倒數(shù)，波長短能量大，容易產生雜散光，而220nm處屬于短波部分；第二，根據(jù)儀器學理論中的電光源理論，氘燈在220nm處能量很小，即信號很小，容易顯現(xiàn)雜散光；第三，根據(jù)儀器學理論中的光電發(fā)射理論，光電倍增管在220nm處的光譜響應（靈敏度）低，容易顯現(xiàn)雜散光。而測試340nm處雜散光的原因是*不同的，因為340n...

2019 9-10

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